可程式冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱 TSD- 36F-2P

可程式冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱 TSD- 36F-2P
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件,無-不需要它的理想測(cè)試工具。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-12-20
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詳細(xì)介紹

可程式冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱 TSD- 36F-2P

用途:

該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬高溫、低溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試:

1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;

2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;

3.對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收;

4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;

5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。