高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱 溫度沖擊試驗(yàn)箱

用途：

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試材料瞬間高溫至低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、化工等材料行業(yè)模擬試件在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)

高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)箱 溫度沖擊試驗(yàn)箱

特點(diǎn)：

1、采用氣動(dòng)控制，提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，

2、轉(zhuǎn)換時(shí)間短，溫度恢復(fù)時(shí)間短，溫變速度快，

3、采用兩箱法，新一代外觀設(shè)計(jì)，整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，提高了工作室的溫度均勻性。

4、既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。

5、備有高檔萬(wàn)向滾輪，方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。

6、真空雙層加熱觀察窗，自帶照明。

7、多數(shù)據(jù)接口，SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦APP遠(yuǎn)程操作。

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)