快速溫變試驗箱 老化測試設備

產品用途
溫度快速變化試驗箱適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元氣件在高溫低溫快速變化的環(huán)境下、檢驗其各性能項指標。

1 整個箱體采用整體結構。箱體結構
2 箱體內側采用1.0mm進口SUS304B不銹鋼板，外側采用1.0mm 冷軋鋼板噴塑，保溫材料采用超細玻璃保溫棉。
3 大門密封采用雙層硅橡膠密封材料。
4 觀察窗為多層導電膜鋼化中空玻璃，尺寸大小為350×500mm為防止低溫時玻璃結霜，特設內置式特制安全電壓發(fā)熱絲環(huán)繞加熱帶供電電壓36V，并設有照明燈，為觀察提供照明。
5 在箱體側面設有帶塞子的φ50mm測試孔，塞子材料為硅橡膠低發(fā)泡，能耐高低溫，兼具保溫效能。
6 在箱體工作室后側設置有一個空氣調節(jié)柜，在其間安裝 加濕器、蒸發(fā)器、電加熱器、風機、風機蝸殼等設備。
7 溫度傳感器置于出風口。
8 試驗箱內的送風方式為上送風下回風方式制冷系統(tǒng)

快速溫變試驗箱 老化測試設備

技術參數：

1.溫度范圍 ：-85 ~ 150℃/-60~ 150℃/-50~ 150℃/-40~ 150℃/-20~ 150℃。
2.快速溫變范圍：-85機型：-75~ 85℃

   -70機型: -65~ 85℃

   -60機型：-55~ 85℃

   -50機型：-45~ 85℃

   -40機型：-35~ 85℃

   -20機型：-15~ 85℃

3.升降溫速率：2℃/分鐘，3℃/分鐘，5℃/分鐘，8℃/分鐘，10℃/分鐘，15℃/

分鐘線性平均或非線性平均
4.控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃
5.分布均勻度：±1.5℃
6.溫度偏差：≤±2℃
7.正常升溫時間：20℃~ 150℃小于45分鐘。
8.正常降溫時間：20~-85℃小于100分鐘，20~-60℃小于70分鐘，20~-50℃小

于65分鐘 20~-40℃小于60分鐘， 20~-50℃小于45分鐘

標準：

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱：濕熱試驗導則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產品環(huán)境試驗

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗

GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GJB150.3-2009 設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJB150.4-2009 設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗